Дифрактометры Райсов серии РСО30 для ориентации кристаллов разработаны специально для полупроводниковой, фотоэлектрической и прецизионной промышленности, обеспечивая надежные решения для измерения ориентации кристаллической решетки. Система использует технологию одинарной/двойной дифракции, что обеспечивает быстрое и точное измерение угла кристалла, предоставляя ключевые данные для последующей резки, шлифовки и других процессов. Благодаря высокочувствительной системе детектирования и стабильной механической конструкции, ориентационный прибор может точно измерять различные образцы, такие как кристаллические слитки, бруски и пластины.
Send EmailБолее










